亚博app手机版-技术应用:当EVA抗PID遇上紫外光

本文摘要:PID试验的测试标准主要是温度和湿度方面。

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PID试验的测试标准主要是温度和湿度方面。在实验室模拟实际的运营环境,定标环境条件的危险度,对应适当的运转时间,计算出超过时间和环境等价的结果,这是在各种实验室测试PID的最后目的。行业内没有告诉我在25C常温、60C和85C下进行PID测试有什么区别,也没有实际的研究证明时温与PID上的计算公式等价。

在这一点上笔者没能明确提出疑问,正是为此。特别是温度方面,总是在夏天的阳光下,不发电的话会达到5、60度的高温。用85C模拟,显然不能加速实验。

不能说是常温或60C。关于湿度,沿岸部和内陆部下雷雨后的85%的湿度是环境湿度,也接近环境湿度。我知道得不到好处。

那么,为什么要放在锅里煮呢? 笔者没有进行这样的研究,但将来真的有这样的必要,所以可能用HAST的方法达成PID。除了温湿度,讨论其他可能的环境因素。

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第一个受到冲击的是,笔者必须谈谈光的影响。PID什么时候不会再次发生? 问:系统电压必须特别在组件上,框短路,对地构成电位差。因此,要配置PID,系统发电时必须在晚上。

这带来了照明条件对组件有什么影响的问题。光可能从两个特定模块的PID生成开始。一个是光照下组件自身的发电场景,此时组件内部有电流流过,与此相对,现有的PID试验将组件的正负极短路展开实验,这到底有什么区别? 有各种各样的说法,例如,当发生PID效应时,阵列中的某个组件正好不发电,或者处于低于正常发电量的状态,组件被部分复盖时。此时,包复单元的电流不是通过光伏效应展开的,而是系统的电流随便流过,电流不流过,在串联连接阵列的下游模块后发电,在包复部位产生电流瓶颈,在短路的框中从地到电池组的洪水在这种情况下,光对PID的影响到底是什么? 第二种情况是多年光照的组件对PID的抵抗力。

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一般客户在向自检和认证机构发送样品时会成为新的组件。此时,模块各部分的材料性能维持得比较原始。像EVA一样,是完全没有经过光和紫外水解的新鲜EVA。此时,EVA材料内的游离醋酸成分(或VA中的V成分)少,PID试验时,仅通过该醋酸成分和试验中可能产生的游离醋酸成分,就产生玻璃中的金属离子的飞散(当然EVA分子结构与聚烯烃相比,EVA的存在是极性的。

因为分子极化也有可能无助于电流的构成,所以在EVA的体积电阻(也有)特别是外用材料工厂发售的抗PID的EVA中,VA含量特别低,这样的组件如果用现在的试验方法进行抗PID试验,溢出电流就会变低。偷偷问一下,一般进行PID试验时,如果溢出电流在几十微安培以上,基本上有可能再次发生PID效果。那么,多年光照的组件又有可能如何变化呢? 制作材料的朋友说组件室外最可怕的是紫外线对有机材料的影响。预计EVA材料本身的C-C键结构会受到紫外后遗症。

即使在材料中添加紫外线稳定剂、紫外线吸收剂,或摸索减少双键含量的方法,其多年的耐紫外线性能也备受争议。我们不需要谈论EVA经过紫外老化水解了多少、变黄了多少、变脆了多少,如果理解经过紫外太阳光的EVA产生了多少游离的VA成分,就比以往没有抗PID效果的EVA的连接游离VA含量低。

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如果答案是YES,暂时运营的组件有可能生成PID,与过去刚发货的组件相比,笑了五十步一百步。更何况组件能用25年呢。五十步,一百步对万里长征来说可能只是第一步。因此,PID试验方法不是在PID试验之前经过紫外线电离放射线试验,进行了不需要电离放射线量的研究,在现在的组件IEC中有不像紫外线预处理(UVpre-condition )那样疼也不痒的适当研究。

即使考虑湿度、温度的影响,紫外线劣化时是否同时产生一定的温湿度来检查EVA材料的耐水解性。真的是EVA。你说抗PID的时候,为什么这么争论?。

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